EDX 3600H 合金快速分析儀

天瑞儀器公司是專業(yè)生產高性能合金快速分析儀----X熒光光譜儀(XRF)的公司。2011年推出的高性能、臺式X熒光合金快速分析儀EDX3600H,融匯*的合金分析技術，配備合金測試效果的智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測效果。

儀器介紹

具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點；EDX3600H合金快速分析光譜儀是天瑞儀器公司為合金測試專門開發(fā)的儀器類型；

同時具有合金測試、合號分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能；

檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。

性能特點

高效超薄窗X光管，指標達到較高水平； 

針對合金的測試而開發(fā)的配件； 

SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比；

天瑞儀器產品—信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上； 

低能X射線激發(fā)待測元素，對Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好；

智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍；

自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性；

高信噪比的電子線路單元； 

針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣； 

多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制；

內置高清晰攝像頭； 

液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然。

標準配置

合金測試高效超薄窗X光管 

超薄窗大面積的*SDD探測器

信噪比增強器 SNE

光路增強系統(tǒng) 

高信噪比電子線路單元 

內置高清晰攝像頭 

自動切換型準直器和濾光片 

自動穩(wěn)譜裝置 

三重安全保護模式 

相互獨立的基體效應校正模型 

多變量非線性回歸程序 

整體鋼架結構，力度可靠的保證 

90mm×70mm的液晶屏

外形尺寸：660mm×510mm×350mm 

樣品腔體積：Φ320mm×100mm

重量：65Kg

技術指標

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）

元素含量分析范圍：ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）

同時分析元素：一次性可測幾十種元素

分析精度：0.05%（含量高于96%以上的樣品、21次測試穩(wěn)定性）

測量時間：60秒-200秒

能量分辨率為：（140±5）eV

管壓：5KV-50KV

管流：50uA-1000uA