鍍層測厚儀是對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層進行厚度測量的rel="nofollow" 儀器，測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等。測試方法主要分為：電渦流法、磁感應法、金相法、庫侖法以及X射線熒光法。今天，我們主要為您講解后三種方法的區別以及關系。

 1、測量原理比較

 2、標準、要求、儀器的選型

 3、測試因素比較

4.應用X熒光法的優勢

1.緊固件螺絲鍍層測厚儀樣品處理方法簡單或無前處理2.可快速對樣品做定性分析3.對樣品可做半定量或準定量分析4.譜線峰背比高,分析靈敏度高5.不破壞試樣,無損分析6.試樣形態多樣化(固體、液體、粉末等)7.設備可靠、維修、維護簡單8.快速：一般測量一個樣品只需要1～3分鐘，樣品可不處理或進行簡單處理。9.無損：物理測量，不改變樣品性質10.準確：對樣品可以分析11.直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然，定性分析速度快12.環保：檢測過程中不產生任何廢氣、廢水 

5.緊固件螺絲鍍層測厚儀Thick800A

儀器介紹Thick800A是天瑞儀器銷量的鍍層測厚儀；儀器采用上照式結構，測試，軟件界面簡潔，測試樣品用時40S，售后服務可靠及時。

儀器性能特點1.滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求2.φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，可以對同一鍍件不同部位測試厚度3.高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光，可自動定位測試高度5.定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊6.鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點7.高分辨率探頭使分析結果更加精準8.良好的射線屏蔽作用9.測試口高度敏感性傳感器保護

儀器參數規格1   分析元素范圍：S-U2   同時可分析多達5層以上鍍層3   分析厚度檢出限達0.005μm4   多次測量重復性可達0.01μm5   定位精度：0.1mm6   測量時間：30s-300s7   計數率：1300-8000cps8   Z軸升降范圍：0-140mm9   X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D) 

儀器軟件優勢:                                     

儀器采用天瑞軟件研發團隊研發的能量色散X熒光FpThick軟件，良好的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作。譜圖區域采用動態模式，測試時元素觀察更直觀。軟件具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。