X熒光金屬鍍層測厚儀thick800a儀器配置

開放式樣品腔 
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動 
雙激光定位裝置 
鉛玻璃屏蔽罩 
Si-Pin探測器 
信號檢測電子電路 
高低壓電源 
X光管 
高度傳感器 
保護傳感器 
計算機及噴墨打印機

性能優勢

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求 
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求 
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度 
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊 
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點 
高分辨率探頭使分析結果更加精準 
良好的射線屏蔽作用 
測試口高度敏感性傳感器保護

X熒光金屬鍍層測厚儀thick800a技術指標

元素分析范圍：硫（S）～ 鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，5層鍍層 
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：2ppm～99.9%
鍍層厚度：50μm以內（每種材料有所不同） 
任意多個可選擇的分析和識別模型 
相互獨立的基體效應校正模型 
多變量非線性回收程序 
重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
操作環境溫度：15℃～30℃ 
電源：交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源 
外觀尺寸： 576（W）×495（D）×545（H）mm 
重量：90kg