波長色散型XRF熒光光譜儀(WD-XRF)是用晶體分光而后由探測器接收經過衍射的特征X射線信號。如果分光晶體和探測器作同步運動，不斷地改變衍射角，便可獲得樣品內各種元素所產生的特征X射線的波長及各個波長X射線的強度。可以據此進行定性分析和定量分析。波長色散型X射線熒光譜儀產生于上世紀50年代，由于可以對復雜體系進行多組分同時測定，受到關注，特別在地質部門，先后配置這種儀器，分析速度顯著提高，起了重要作用。

X熒光光譜儀的使用

　　1 啟動

　　1.1 如停機在2-8小時，則外冷水需先運轉10分鐘，內冷水需先運轉5分鐘;如停機在8小時以上，則外冷水需先運轉15分鐘，內冷水需先運轉10分鐘。

　　1.2 開機順序為打開外冷水

　　1.3 打開內冷水(COOLER)開關

　　1.4 打開CTROL、VACUUM開關(觀察真空度是否下降到10以下，觀察內冷卻水的電導率是否在10以下)

　　1.5 打開HEATER

　　1.6 打開板高壓開關

　　1.7 打開電腦，打開MXF操作軟件，點擊Monitor，觀察狀態并檢查是否聯機

　　1.8 一切正常后，打開面板右下方X-RAY開關

　　1.9 點擊面板左上方X-RAY ON按鈕，可打開X射線--按照(5KV-0mA)--(10KV-mA)--(15KV-0mA)--(20KV-0mA)--(20KV-5mA)--(20KV-10mA)順序升高管流、管壓。如停機在2-8小時，則每步需等待10分鐘;如停機在8小時以上，則每步需等待20分鐘

　　1.10 點擊Maintenance欄位-彈出Maintenance-MXF-點擊Inrument Setup-彈出Instrument Setup-在X-ray下方管壓、管流欄位中，將兩項設定為(30、20)，點擊執行，即可使光管條件恢復待機狀態，可進行常規分析操作。

產品介紹

EDX 4500H——XRF熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。

該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。

另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

性能特點

高效超薄窗X光管，指標達到較高水平

新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好

SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比

低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好

智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍

自動穩譜裝置保證了儀器工作的*性

高信噪比的電子線路單元

針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣

解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度

多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制

內置高清晰攝像頭

液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然

技術參數

產品型號：EDX 4500H

產品名稱：X熒光光譜儀

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）

元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）

同時分析元素：一次性可測幾十種元素

測量時間：30秒-200秒

探測器能量分辨率為：145±5eV

管壓：5KV-50KV

管流：50μA-1000μA

測量對象狀態：粉末、固體、液體

輸入電壓：AC 110V/220V

環境溫度：15℃-30℃

環境濕度：35%-70%

樣品腔體積：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

XRF熒光光譜儀EDX4500H標準配置

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探測器

數字多道技術

光路增強系統

高信噪比電子線路單元

內置高清晰攝像頭

自動切換型準直器和濾光片

自動穩譜裝置

三重安全保護模式

可靠的整體鋼架結構

90mm×70mm的狀態顯示液晶屏

真空泵

XRF熒光光譜儀EDX4500H應用領域

XRF熒光光譜儀合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）